更新時間:2024-11-06
串聯(lián)諧廠家/變頻諧振試驗裝置找頻快通過諧振條件產(chǎn)生的原因,可以知道兩種調(diào)節(jié)方式產(chǎn)生諧振:調(diào)節(jié)L或C使電路諧振,根據(jù)給定的公式調(diào)整電感元件與電容元件的關(guān)系;調(diào)節(jié)電源頻率,使得電源輸出頻率與電路固有頻率相等。
串聯(lián)諧廠家/變頻諧振試驗裝置找頻快應(yīng)用范圍:
是運用串聯(lián)諧振的原理,利用勵磁變壓器激發(fā)串聯(lián)諧振回路,通過調(diào)節(jié)變頻控制器的輸出頻率,使得回路中的電抗器電感L和試品電容C發(fā)生串聯(lián)諧振,諧振電壓即為試品上所加電壓。變頻串聯(lián)諧振裝置廣泛用于電力、冶金、石油、化工等行業(yè),適用于大容量、高電壓的電容性試品的交接和預(yù)防性試驗。
適用于10KV、35KV、110KV、220KV、500KV交聯(lián)聚乙烯電力電纜交流耐壓試驗
變頻串聯(lián)諧振試驗裝置適用于66KV、110KV、220KV、500KV、GIS交流耐壓試驗
適用于大型發(fā)電機(jī)組、電力變壓器工頻耐壓
適用于電力變壓器的感應(yīng)耐壓試驗
變頻串聯(lián)諧振試驗裝置常見故障及分析
1.主機(jī)找不到諧振點。
原因:系統(tǒng)諧振點在主機(jī)的輸出頻率范圍之外;系統(tǒng)接線錯誤;
系統(tǒng)未可靠接地;高壓采樣反饋信號開路或連接不可靠;試品有故障。
2.主機(jī)復(fù)位。
原因:主機(jī)供電電源波動;外界強(qiáng)磁場干擾;主機(jī)未可靠接地;
3.Q值偏低,即電壓升不上去,或升不高。
原因:試品放電泄漏;
電抗器磁路受干擾,例如電抗器被放置在磁場屏蔽范圍內(nèi)。
4.電源跳閘。
原因:諧振系統(tǒng)回路短路。
說明:以上故障原因僅供參考。
注意:
請勿擅自打開箱體,拆卸或更換元器件,如有質(zhì)量問題,請與本公司。
串聯(lián)諧廠家/變頻諧振試驗裝置找頻快技術(shù)指標(biāo):
(1)工作溫度范圍:-10~45℃
(2)工作濕度范圍:≤90%
(3)海拔:≤1000m
(4)供電電源電壓:380V±10%、三相或220V±10%、單相(10KW及以下)
50/60Hz
(5)供電電源容量:0-300KW
(6)額定輸出電壓:0-1000KV
(7)額定輸出容量:0-35MVA
(8)工作頻率范圍:30-300Hz(亦可根據(jù)用戶要求放寬頻率范圍)
(9)頻率調(diào)節(jié)分辨率:0.02Hz; 不穩(wěn)定度≤0.05%
(10)噪音:≤60dB
(11)系統(tǒng)測量精度:1級
(12)輸出波形:正弦波,波形畸變率≤1%
(13)電抗器Q值:30-120
(14)系統(tǒng)具有IGBT、過電壓、過電流、試品閃絡(luò)等全自動保護(hù)
變頻串聯(lián)諧振試驗裝置實現(xiàn)諧振的方式
1)LC不變,改變W0
W0由電路本身的參數(shù)決定,一個rlc串聯(lián)諧振電路只能有一個對應(yīng)的W0,當(dāng)外加頻率等于諧振頻率時,電路發(fā)生諧振。
2)電源頻率不變,改變L或C(常改變C)
通過諧振條件產(chǎn)生的原因,可以知道兩種調(diào)節(jié)方式產(chǎn)生諧振:調(diào)節(jié)L或C使電路諧振,根據(jù)給定的公式調(diào)整電感元件與電容元件的關(guān)系;調(diào)節(jié)電源頻率,使得電源輸出頻率與電路固有頻率相等
1)電路阻抗最?。篫=R
2)電路中電流最大
3)總電壓與總電流同相位,電路呈陽性
4)電阻兩端電壓等于總電壓,電感與電容兩端電壓相等,相位相反,且為總電壓的Q倍。
串聯(lián)電路諧振試驗原則
1)串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置在較低頻率時,試驗電流較??;
2)電抗器并聯(lián),電感量減小,耐壓不變;電抗器串聯(lián),電感量增大,耐壓值升高;
3)電抗器并聯(lián)式適合做長電纜,電抗器單臺使用或者串聯(lián)式適合做斷電纜。
操作步驟:
1.根據(jù)各種試品接線方法,保證各點的接觸良好,保證一點接地,且接地點距分壓器zui近。
2.確保連接無誤后接通電源。
3.打開主機(jī)電源開關(guān)會顯示主菜單
4.將光標(biāo)移至:試驗參數(shù)設(shè)置;按確認(rèn)鍵。進(jìn)行各項參數(shù)的修改,用上下左右
和確認(rèn)鍵執(zhí)行。
然后返回主菜單。
5. 將光標(biāo)移至:系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置:按確認(rèn)鍵。進(jìn)行時間參數(shù)的修改,用上下左右和確認(rèn)鍵執(zhí)行。
6. 將光標(biāo)移至:進(jìn)入試驗:按確認(rèn)鍵。
7. 此時接上IGBT的輸入電壓選擇試驗方法,進(jìn)行試品的試驗,用確認(rèn)鍵執(zhí)行。
8. 選擇手動試驗時,行的是找到試品諧振點,用上下鍵進(jìn)行,使試驗電壓在zui高點;在完成了此項操作后請按面板調(diào)壓鍵用左右鍵移位,上鍵增加激勵功率當(dāng)接近試驗電壓后用右移鍵將光標(biāo)移至小數(shù)點后慢慢增加功率防止試品擊穿,到額定電壓后主機(jī)開始自動計時至設(shè)定時間退出試驗。選擇自動試驗時只要按了確認(rèn)鍵就不要這些操作了。
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